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Änderungstext
Zweite Verordnung zur Änderung der Kostenverordnung für die Zulassung von Messgeräten zur Eichung
Vom 18. Oktober 2010
(BGBl. I Nr. 52 vom 27.10.2010 S. 1430)
Auf Grund des § 14 Satz 1 des Eichgesetzes, der zuletzt durch Artikel 1 Nummer 4 Buchstabe b des Gesetzes vom 2. Februar 2007 (BGBl. I S. 58) neu gefasst worden ist, in Verbindung mit dem 2. Abschnitt des Verwaltungskostengesetzes vom 23. Juni 1970 (BGBl. I S. 821) verordnet das Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie:
Die Zulassungskostenverordnung vom 22. Dezember 1992 (BGBl. I S. 2471), die zuletzt durch Artikel 18 des Gesetzes vom 10. November 2001 (BGBl. I S. 2992) geändert worden ist, wird wie folgt geändert:
1. § 1 wird wie folgt gefasst:
alt | neu |
§ 1 Anwendungsbereich
Für Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (Bundesanstalt) nach § 14 Satz 1 Nr. 1 und 2 des Eichgesetzes werden Kosten (Gebühren und Auslagen) nach dieser Verordnung erhoben. | " § 1 Anwendungsbereich
Für jede der nachstehend aufgeführten Amtshandlungen der Physikalisch-Technischen Bundesanstalt (PTB) nach § 13a Nummer 1 und 2 des Eichgesetzes werden Gebühren und Auslagen nach dieser Verordnung erhoben:
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2. § 2 wird wie folgt gefasst:
alt | neu | |||||||||
§ 2 Gebührenberechnung
Die Gebühren werden nach dem Arbeitsaufwand berechnet. Bei der Berechnung der Gebühr nach dem Arbeitsaufwand sind als Stundensätze zugrunde zu legen
Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen. | " § 2 Gebührenberechnung
(1) Die Gebühren werden nach dem Zeitaufwand bestimmt, soweit nicht nach § 3 Gebühren auch für den sachlichen Aufwand zu erheben sind. Bei der Berechnung der Gebühr sind die in der Anlage zu dieser Verordnung für die einzelnen Themenbereiche aufgeführten Stundensätze zugrunde zu legen. Für jede angefangene Viertelstunde ist ein Viertel dieser Stundensätze zu berechnen. (2) Zum Zeitaufwand gehören insbesondere folgende Tätigkeiten:
(3) Werden Amtshandlungen nach § 1 außerhalb der Bundesanstalt erbracht, so sind Gebühren nach dem Zeitaufwand ferner zu berechnen für
|
3. § 3 wird wie folgt geändert:
a) Absatz 1
(1) Werden Amtshandlungen außerhalb der Bundesanstalt vorgenommen, sind Gebühren nach § 2 auch zu erheben für
- Reisezeiten,
- Wartezeiten, die vom Kostenschuldner zu vertreten sind,
soweit die Zeiten innerhalb der üblichen Arbeitszeit liegen oder von der Bundesanstalt besonders abgegolten werden.
wird aufgehoben
b) Die Absatzbezeichnung "(2)" wird gestrichen.
§ 4 Höchstsatz der Gebühr(1) Die Gebühr darf nicht übersteigen
- 15.000 Euro für eine Zulassung,
- 7.500 Euro für eine Prüfung von Normalgeräten oder Prüfungshilfsmitteln.
(2) Erfordert eine Zulassung überdurchschnittliche personelle oder sachliche Aufwendungen, so kann die Gebühr bis zu 30.000 Euro betragen.
wird aufgehoben.
5. Die §§ 5 und 6 werden die §§ 4 und 5.
6. Folgende Anlage wird angefügt:
"Anlage (zu § 2)
Für die Amtshandlungen nach § 1 dieser Verordnung werden die nachstehend aufgeführten Stundensätze berechnet:
Themenbereich | Stundensatz Euro | Fachbereich |
Themenbereich 1 Akustik, Ultraschall, Beschleunigung | 75 | Kinematik |
Schall | ||
Angewandte Akustik | ||
Themenbereich 2 Durchfluss | 80 | Gase |
Flüssigkeiten | ||
Wärme | ||
Themenbereich 3 Elektrizität und Magnetismus | 70 | Gleichstrom und Niederfrequenz |
Hochfrequenz und Felder | ||
Elektrische Energiemesstechnik | ||
Quantenelektronik | ||
Halbleiterphysik und Magnetismus | ||
Elektrische Quantenmetrologie | ||
Themenbereich 4 Ionisierende Strahlung | 78 | Radioaktivität |
Strahlentherapie und Röntgendiagnostik | ||
Strahlenschutzdosimetrie | ||
Ionenbeschleuniger und Referenzstrahlungsfelder | ||
Neutronenstrahlung | ||
Grundlagen der Dosimetrie | ||
Themenbereich 5 Länge, dimensionelle Metrologie | 76 | Bild- und Wellenoptik |
Quantenoptik und Längeneinheit | ||
Oberflächenmesstechnik | ||
Dimensionelle Nanometrologie | ||
Koordinatenmesstechnik | ||
Interferometrie an Maßverkörperungen | ||
Themenbereich 6 Masse und abgeleitete Größen | 75 | Masse |
Festkörpermechanik | ||
Themenbereich 7 Metrologie in der Chemie | 73 | Metrologie in der Chemie |
Gasanalytik und Zustandsverhalten | ||
Stoffeigenschaften und Druck | ||
Themenbereich 10 Thermometrie | 78 | Detektorradiometrie und Strahlungsthermometrie |
Temperatur | ||
Kryo- und Vakuumphysik | ||
Sonstige Leistungen | 76 | Gesetzliches Messwesen und Technologietransfer |
69 | Justitiariat |
Diese Verordnung tritt am 1. Dezember 2010 in Kraft.